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• 整體位移分辨率3μm，樣品臺XYZR四維調節；
• PID控溫，可加熱至300℃（可升級），控溫精度±1℃，有效區域溫度均勻性±5℃；
• 1μm以上的電極/PAD使用；
• 探針座采用進口交叉滾珠導軌，線性移動，無回程差設計；
• 搭配雙目體式顯微鏡，XY二維調節；
• 應用于：納米結構與納米器件研究、光電子器件測試、薄膜與界面性能研究等；

     譜量光電 恒溫加熱探針臺在半導體器件、電子材料和生物醫學等領域的測試中，通常需要模擬實際工作環境的溫度條件。加熱可以改變材料的微觀結構和性能，可以觀察和分析材料在不同溫度下的性能變化，如導電性、導熱性、熱膨脹系數等。我司恒溫加熱探針臺能夠實現對樣品的快速加熱、精確控溫和穩定測試，PID控溫可加熱至300℃，控溫精度±1℃，如有其他定制需求可聯系客服。