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探針臺
Probe Stations
低維材料
2D Material Transfer Platform
光電測試系統(tǒng)
Optoelectronic test system
光學(xué)平臺與光學(xué)面包板
Optical platform and breadboard
光波導(dǎo)耦合系統(tǒng)
Optical waveguide coupling system
光源
Light Source
OCT 成像系統(tǒng)
OCT Imaging System
光電探測與分析
Beam Measurement and Control
顯微觀察
Microscopic observation
運(yùn)動控制
Motion Control
教學(xué)/科研光路系統(tǒng)
Scientific optical path system
其他設(shè)備及軟件
Other equipment and software
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整體位移分辨率3μm，樣品臺XYZR四維調(diào)節(jié)；
PID控溫，可加熱至300℃（可升級），控溫精度±1℃，有效區(qū)域溫度均勻性±5℃；
1μm以上的電極/PAD使用；
探針座采用進(jìn)口交叉滾珠導(dǎo)軌，線性移動，無回程差設(shè)計(jì)；
搭配雙目體式顯微鏡，XY二維調(diào)節(jié)；
應(yīng)用于：納米結(jié)構(gòu)與納米器件研究、光電子器件測試、薄膜與界面性能研究等；
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