探針臺
Probe Stations
探針作為探針臺的核心部件之一,主要用途是接觸連接待測件電極,為半導體芯片的電參數測試提供一個導通條件,從不同應用場景可分為鎢鋼探針,鎢鋼鍍金探針,鍍金軟針,鎢鋼角度探針等,被廣泛應用于半導體及光電等行業的測試。在探測過程中,半導體探針被當做一個電流源,將電流引入待測材料,然后從待測材料的另一側將電流采集回來。通過這種方式,可以探測到待測材料中的電學現象,進而分析材料的電學特性參數。
鎢鋼探針是一種金屬探頭,由鎢鋼這種高硬度、抗磨損性能好的材料制成。鎢鋼探針因其特殊的材質特性,無論是工業制造中的材料檢測,還是科學研究中的精密測量,鎢鋼探針都能發揮重要作用。
鎢鋼鍍金探針提高了探針的導電性,保證了測試結果的準確性。同時,鍍金還能防止探針表面氧化,進一步延長了探針的使用壽命。此外,鎢鋼鍍金探針表面光滑,不會對被測物件造成刮傷,確保了測試的可靠性。
鍍金軟針是一種結合了金屬鍍金與柔軟材質特性的探針。鍍金賦予了其良好的導電性和電化學穩定性,而柔軟的材質則使其具有更好的柔韌性和適應性,減少對集成電路的損壞能夠在復雜的測試環境中靈活應用。
鎢鋼角度探針是一種具有特定角度設計的探針,使其能夠在特定的測試環境中發揮出色的性能。角度設計則使得探針能夠更準確地接觸和測量待測物件,在特定的測試環境中發揮出色的性能提高了測試的精度和可靠性。
鈹銅探針是一種廣泛應用于電子測試和測量設備中的探針材料。由于其優良的機械和電氣性能,鈹銅探針在許多精密測試中扮演著重要角色。